液晶屏能夠顯示各種信息給人類(lèi)，是現代電子技術(shù)、人工智能的重要基礎單位，是人機交互的重要通道，具有十分重要的價(jià)值。液晶屏中最新的是源矩陣有機發(fā)光二級面板顯示屏(amoled)，因其特性受到了業(yè)界的廣泛關(guān)注，其中偏光片是它的重要組成部分。偏光片分別由保護膜、三醋酸纖維素膜(TAC)、聚乙烯醇膜(PVA)、離型膜和壓敏膠等結構層組成。在生產(chǎn)過(guò)程中，將原材料的膜通過(guò)拉伸、擴大等制作工藝，最終使偏光片整體透光效果均勻，從而為amoled的均勻發(fā)光效果提供保障。

　　偏光片是一種常見(jiàn)的偏振光學(xué)元件，應用非常廣泛，在薄膜電晶體液體顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)型液晶顯示面板中，必有兩層偏振方向正交的偏光片。偏光片成品一般由 6 層微米級厚度的透明聚合物薄膜組成，其外觀(guān)缺陷可能出現在任何一層。一旦出現凸凹點(diǎn)、異物、氣泡、劃痕等外觀(guān)缺陷會(huì )直接降低顯示面板的質(zhì)量等級，甚至導致整個(gè)面板報廢，因此偏光片外觀(guān)缺陷檢測就變得尤為重要。

　　1、案例需求：薄膜溝槽深度測量

　　2、解決方案：

　　采用3D飛點(diǎn)分光干涉儀系列，采集薄膜劃痕狹縫數據，用GIVS 3D進(jìn)行檢測。

　　3、樣品特點(diǎn)

　　多層透明薄膜、溝槽橫向寬度窄

　　4、測量條件

　　掃描點(diǎn)數：100×400

　　掃描范圍：0.3×1.2(mm)

　　5、軟件工具

　　平面校正、點(diǎn)云轉深度圖、高度測量等。

　　6、檢測方案

　　(1)點(diǎn)云數據采集;

　　(2)進(jìn)行點(diǎn)云數據校正，將點(diǎn)云轉成深度圖;

　　(3)選擇測量區域，進(jìn)行高度測量。

　　3D飛點(diǎn)分光干涉儀 是專(zhuān)業(yè)用于超高精度、鏡面高反光及透明材質(zhì)的納米級測量?jì)x。采用譜域白光干涉原理，實(shí)現300nm Z向絕對精度、30nm Z向重復精度，掃描幀率70kHz，最大直徑80mm，可適用于測量強反射、弱反射及透明物體等多種物體，分光模塊與光學(xué)振鏡模塊分離設計，加入光學(xué)振鏡掃描可替代昂貴的高精密位移臺。

　　產(chǎn)品可廣泛應用于半導體晶圓、金線(xiàn)、BGA、AR鏡片、精密接插件等亞微米級別的3D測量。

3D飛點(diǎn)分光干涉儀

　　蘇州中科行智智能科技有限公司是由中科蘇州機器視覺(jué)技術(shù)研究院孵化的一家高科技企業(yè)。初創(chuàng )人員均來(lái)自于國內知名科研機構的中青年科學(xué)家、基礎技術(shù)研究人員、知名IT企業(yè)高層管理人員和技術(shù)骨干，在前沿技術(shù)研究、技術(shù)產(chǎn)業(yè)化、企業(yè)管理和運營(yíng)等方面積累了豐富的經(jīng)驗。

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